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首頁-產(chǎn)品系統(tǒng)-放射影像質(zhì)控設備-CRDR機檢測工具
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低對比度細節(jié)檢測模體是一種專門用于檢測X射線等設備在低對比度環(huán)境下性能的實驗工具。低對比度細節(jié)檢測模體的使用可以幫助醫(yī)療人員更好地理解影像設備的性能表現(xiàn)，進而更準確地判斷病情并制定出更有效的治療方案。
更新日期：2025-09-16
產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
低對比度細節(jié)檢測模體用于快速定量檢測影像成像質(zhì)量，可以用于X射線放射影像系統(tǒng)，CR系統(tǒng)(TO16);$n$n2.直徑250mm，厚度10mm;圓板中有12組不同細節(jié)點，每組中有12個不同直徑的細節(jié)點。144個細節(jié)點的對比度范圍從0.0014到0.924(在75kV和1.5mm銅濾過的條件下)。
更新日期：2025-09-16
產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
產(chǎn)品簡介 十字嵌鉛刻度軟米尺(軟鉛尺) KR020 長30cm，寬3cm，1mm刻度間距，嵌鉛刻度。
更新日期：2025-09-16
產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
德國IBA TYPE39c型 線對卡 主要用于測試X射線機的高分辨率。 量程：1.5-12LP/MM，組數(shù)14組。 鉛箔厚度為0.06mm, 尺寸為30X60mm.
更新日期：2025-09-16
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
雙絲像質(zhì)計（德國）根據(jù)ISO19232-5/EN462-5/ASTM E2002標準生產(chǎn)，ISO19232-5/ EN462-5/ASTM E2002雙絲像質(zhì)計是由放置于剛性半透明塑料盒中的13個線對組成，雙絲像質(zhì)計絲的直徑與絲與絲之間的距離相等，每個線對包含兩條圓形截面的線。1D至3D線對是金屬鎢，其它線對是金屬鉑。雙絲像質(zhì)計用于確定射線照相和實時射線透照系統(tǒng)的幾何不清晰度。
更新日期：2025-09-16
產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
雙絲像質(zhì)計介紹 雙線像質(zhì)計的樣式和主要尺寸如圖1所示, 基本結(jié)構(gòu)包括:封裝板、13個絲對、識別標志號,各部分經(jīng)粘結(jié)構(gòu)成具有一定剛性的整體。金屬絲的材質(zhì)為鉑和鎢。
更新日期：2025-09-16
產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
JIMA（日本檢測儀器制造商協(xié)會）致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質(zhì)量。
更新日期：2025-09-16
產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
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